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美国麦奇克Microtrac在PITTCON展出粒度分析仪

放大字体  缩小字体 发布日期:2014-03-17    来源:仪器信息网    浏览次数:438    评论:0
导读

全球激光粒度分析领域的佼佼者麦奇克Microtrac在2014年的Pittcon上展出行业内受欢迎的激光粒度粒形及Zeta电位分析仪,展会将于三月3-6日在风城芝加哥的麦考密克举行。

  全球激光粒度分析领域的佼佼者麦奇克Microtrac在2014年的Pittcon上展出行业内受欢迎的激光粒度粒形及Zeta电位分析仪,展会将于三月3-6日在风城芝加哥的麦考密克举行。

  在最前沿及革新的实验室分析仪领域的杰出主办方,Pittcon接待了来自世界各地的参展商,美国麦克奇公司在3213展位上展示了以下的微粒分析仪。

  Bluewave  —— 麦奇克Microtrac公司是第一个将蓝色激光运用到激光衍射粒度分析仪,由于蓝光的波长更短,用户就能准确快速的测量小到10纳米的微粒。根据改进的米氏算法,用户准确的测量非球形的粒度,这让市面上大多数的主流粒度仪都望尘莫及。

  Bluewave Si —— 您看到过你的颗粒聚集体吗?如果您拥有了集蓝波微粒分析仪以及动力图像分析仪于一体的的Blue Wave Si 您就能同时测量5微米到1500微米微粒的粒径以及粒形。

  Nanotrac Wave —— 利用动态光散射技术测量0.8到6500纳米的粒径,zeta电位以及微粒的分子重量, 正因为动态散射光的这项专利,用户才可以非常清晰的测量20纳米以下的微粒,这是大多数主流DLS分析仪鞭长莫及的。Nanotrac Wave 中设有珀尔帖效应温度控制装置,这能够让客户了解温度对材料的测量由什么影响,Nanotrac Wave 还能测量浓度在0.01到40%的材料,解决了潜在的稀释问题。

  Nanotrac Wave Q  —— Nanatrac Wave配备一个样品比色皿,是美国麦克奇Microtrac公司最新的分析仪, Nanotrac Wave Q 是为了需要通过快速置换比色皿内样本来测量分析纳米颗粒和让他们的测量材料免于污染的客户而设计的。

  PartAn —— 目前粒度分析仪市场中,可以用3D技术来测量粒度的只有PartAn才能做到。Partan 可以测量25种类型的粒形参数,对于繁琐的筛选分析来说是一种理想的替代,当我们对比筛分结果时不难发现,PartAn能够在更短的时间内给出准确并具有代表性的结果,但却不要使用者的任何介入。PartAn可以测量范围在20-35000微米的微粒,同事支持在线测量的能力。

 
关键词: 展会,分析仪,
(文/小编)
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